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J-GLOBAL ID：202302246162015305   整理番号：23A0269332

JTAG認証機構の軽量化設計について

On the Low-Cost design for JTAG Authentication

著者 (7件)： 馬竣 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  岡本悠 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  王森レイ (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  甲斐博 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  亀山修一 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  清水明宏 (高知工科大)
資料名： エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集(CD-ROM)  (エレクトロニクス実装学会春季講演大会論文集(CD-ROM))
巻： 36th  ページ： 212-214  発行年： 2022年03月23日 
JST資料番号： X0498B  ISSN： 1880-4616  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・JTAGとは,集積回路(IC)や基板の動作テストを行うための国際標準規格(IEEE1149.1)。
・本研究では,JTAG認証の軽量化技術を開発することを目的とし,SAS-Lというワンタイムパスワード認証方式を用いたJTAG認証プロトコルを提案。
・コスト重視のIoTデバイスにおけるJTAGのセキュリティを強化するためにも,クライアント側の演算負荷の少ないSAS-Lワンタイムパスワード認証方式を用いたJTAG認証プロトコルを提案。

シソーラス用語： *国際規格 ,  *バウンダリスキャン ,  *認証 ,  半導体集積回路 ,  軽量化 ,  パスワード ,  プロトコル ,  相互接続 ,  インターネット ,  改変

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (8件)：

• エッジが攻撃対象を拡大する懸念, https://cafe-dc.com/special/edge-increases-attack-surface/, accessed on 29 Jan. 2022.
• ケネス・P.パーカー(著),亀山修一(監訳),バウンダリスキャンハンドブック,青山社,2012年,第3版,ISBN978-4-88359-303-3
• 王 森レイ,亀山 修一,高橋 寛, “JTAG のセキュリティ脅威 攻撃の現状とその対策-,”エレクトロニクス実装学会誌,vol.24, no.7, pp.668- 674, 2021.
• F. Novak and A. Biasizzo, “Security extension for IEEE Std 1149.1,” J. Electron. Test. Theory Appl., vol. 22, no. 3, pp. 301-303, 2006.
• G. Chiu and J. C. Li, ′′A Secure Test Wrapper Design Against Internal and Boundary Scan Attacks for Embedded Cores,′′ in IEEE Transactions on Very Large-Scale Integration (VLSI) Systems, vol. 20, no. 1, pp. 126-134, Jan. 2012, doi: 10.1109/TVLSI.2010.2089071.

タイトルに関連する用語 (4件)： JTAG ,  認証 ,  軽量化 ,  設計