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J-GLOBAL ID:202302253715178530   整理番号:23A2522706

ELPH光子ビームプロファイルモニターにおける荷電粒子の除去効率の改善

Improvement of charged particle rejection for photon beam profile monitor at ELPH
著者 (22件):
資料名:
巻: 78  号:ページ: ROMBUNNO.25pPSV-2  発行年: 2023年03月23日 
JST資料番号: S0671C  ISSN: 2189-079X  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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東北大学電子光理学研究センター(ELPH)では、電子シンクロトロンによって最大1.3 GeV程度まで加速された周回電子にφ11μmの炭素ファイバーであるラジエータを挿入することで、制動放射光ビームを取り出している。こ...【本文一部表示】
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分類 (1件):
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放射線検出・検出器 
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