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J-GLOBAL ID：202302273281915454   整理番号：23A0204380

光子相関マッピングを用いたInGaN量子井戸のトレンチ欠陥における発光劣化機構の解析

Analysis of local emission degradation in trench defect of InGaN/GaN quantum well using photon correlation mapping

著者 (5件)： 柳本宗達 (東京工大) ,  山本直紀 (東京工大) ,  三宮工 (東京工大) ,  秋葉圭一郎 (東京工大) ,  秋葉圭一郎 (量子科学技術研究開発機構)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 83rd  ページ： ROMBUNNO.20a-A202-5  発行年： 2022年08月26日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 電子線励起による発光はカソードルミネセンス(CL)と呼ばれ、物性評価において高い空間・エネルギー分解能を持った解析手法として応用され、発展を遂げている。さらに近年、CLのHanbury Brown-Twiss(HBT)干渉計を用いた光子相関...【本文一部表示】

シソーラス用語： 陰極線ルミネセンス ,  干渉計 ,  電子ビーム ,  *発光 ,  半導体 ,  半導体レーザ ,  *インジウム ,  半導体材料 ,  可視化 ,  *窒化ガリウム ,  薄膜成長 ,  *量子井戸 ,  キャリア再結合 ,  発光強度
準シソーラス用語： 非放射再結合 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 量子光学一般  (BD04010X)

タイトルに関連する用語 (7件)： 光子相関 ,  マッピング ,  InGaN ,  量子井戸 ,  トレンチ ,  欠陥 ,  解析