文献

J-GLOBAL ID：202302273298103077   整理番号：23A2811416

SOI技術を用いた新型X線撮像分光器の開発 61:内蔵アナログ-デジタル変換器の性能評価

著者 (18件)： 松橋裕洋 (東大) ,  萩野浩一 (東大) ,  馬場彩 (東大) ,  武田彩希 (宮崎大) ,  行元雅貴 (宮崎大) ,  森浩二 (宮崎大) ,  西岡祐介 (宮崎大) ,  鶴剛 (京大) ,  上ノ町水紀 (京大) ,  池田智法 (京大) ,  松田真宗 (京大) ,  成田拓仁 (京大) ,  田中孝明 (甲南大) ,  鈴木寛大 (甲南大) ,  倉知郁生 (ディーアンドエス) ,  幸村孝由 (東京理大) ,  内田悠介 (東京理大) ,  新井康夫 (KEK)
資料名： 日本天文学会年会講演予稿集
巻： 2023  号： 秋季  ページ： 250  発行年： 2023年08月20日 
JST資料番号： S0300B  ISSN： 1347-0639  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 次世代広帯域X線撮像分光衛星に搭載する予定のX線SOI-CMOS検出器「XRPIX」はSOI技術を用いてSiO2からなる絶縁層を挟みセンサ層とCMOS層を一体化した検出器である。XRPIXの時間分解能はトリガー機能を実装...【本文一部表示】

シソーラス用語： 雑音 ,  X線検査 ,  二酸化ケイ素 ,  *撮像 ,  検出器 ,  空乏層 ,  広帯域 ,  *SOI構造 ,  検出効率 ,  *AD変換器 ,  CMOS
準シソーラス用語： 内蔵 ,  絶縁層 ,  X線撮像分光器 ,  微分非直線性 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 流星,すい星,いん石  (DB04040A)

タイトルに関連する用語 (5件)： SOI技術 ,  X線撮像分光器 ,  開発 ,  アナログ-デジタル変換器 ,  性能評価