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J-GLOBAL ID：202402243543955696   整理番号：24A0611963

スピン量子ビット集積化に向けたシリコンインタポーザーを介した量子ドット測定

Measurement of quantum dots via a silicon interposer toward spin qubits integration

著者 (7件)： 二谷時緒 (東京工大) ,  溝口来成 (東京工大) ,  田口美里 (神戸大) ,  三木拓司 (神戸大) ,  永田真 (神戸大) ,  米田淳 (東京工大) ,  小寺哲夫 (東京工大)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 84th  ページ： ROMBUNNO.21a-A304-4  発行年： 2023年09月05日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： シリコン量子ドット(QD)を用いたスピン量子ビットは、既存のCMOS技術との親和性やフットプリントの小ささから将来的な大規模集積化に有望である。しかしながら、量子ビット数の増加に伴い、室温と希釈冷凍機間の配線数増加による熱流入の増大や、量子...【本文一部表示】

シソーラス用語： 電荷 ,  *ケイ素 ,  配線 ,  LSI【IC】 ,  相互接続 ,  HF【周波数】 ,  LC回路 ,  伝送線路 ,  直流 ,  極低温 ,  位相 ,  漂遊容量 ,  *量子ドット ,  コンダクタンス
準シソーラス用語： *インターポーザ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 量子光学一般  (BD04010X) ,  分析機器  (CC02020S)

タイトルに関連する用語 (5件)： スピン量子ビット ,  集積化 ,  シリコン ,  インタポーザー ,  量子ドット