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J-GLOBAL ID：202502252229245474   整理番号：25A0684239

局所C-Vマッピングと圧電応答顕微鏡の統合計測システムの開発

Development of Integrated Measurement System for Local C-V Mapping and Piezoresponse Force Microscopy

著者 (5件)： 野口雄貴 (東北大) ,  三村和仙 (東京工大) ,  清水荘雄 (東京工大) ,  舟窪浩 (東京工大) ,  平永良臣 (東北大)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 71st  ページ： ROMBUNNO.23p-12H-9  発行年： 2024年03月05日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： [はじめに]強誘電体を用いたアプリケーションの発展のために,強誘電体のナノスケールでの解析は重要である.走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)をベースとして近年開発された局所C-Vマッピングは,分極反転のドメインダイナミクスを計測するという,...【本文一部表示】

シソーラス用語： 強誘電体 ,  写像 ,  薄膜 ,  分極 ,  酸化ハフニウム ,  応用プログラム ,  自発分極 ,  分極反転 ,  *圧電応答 ,  強誘電体薄膜 ,  ランダム配向 ,  ドメイン構造 ,  *圧電応答力顕微鏡 ,  ナノスケール ,  第二高調波

分類 (1件)： 強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B)

タイトルに関連する用語 (5件)： マッピング ,  圧電応答顕微鏡 ,  統合 ,  計測システム ,  開発