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J-GLOBAL ID:202502259638172156   整理番号:25A0582677

RFマグネトロンスパッタ法によるSi基板直上へのY添加強誘電体HfO2薄膜の作製

Growth of Y-doped HfO2 ferroelectric thin films on Si substrates by RF magnetron sputtering
著者 (9件):
資料名:
巻: 37th  ページ: ROMBUNNO.1PC03pm (WEB ONLY)  発行年: 2024年09月03日 
JST資料番号: L2240C  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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分類 (2件):
分類
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酸化物薄膜  ,  強誘電体,反強誘電体,強弾性 

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