特許

J-GLOBAL ID：200903022792360237

磁気的インピーダンス計測装置

発明者： 塚田 啓二 ,  紀和 利彦
出願人/特許権者： 国立大学法人 岡山大学
代理人 (6件)： 杉村 興作 ,  藤谷 史朗 ,  来間 清志 ,  花村 泰伸 ,  杉村 憲司 ,  英 貢
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2006304927
公開番号（公開出願番号）：WO2006-109382
出願日： 2006年03月13日
公開日（公表日）： 2006年10月19日
要約：

測定対象物に低周波の交流磁場を印加して発生する誘導電流の分布を計測して、測定対象物のインピーダンス特性の分布を検出する。本発明は、磁気的インピーダンス計測装置であって、周波数が可変の交流磁場を発生させる印加コイルと印加コイル用電源とを備え、測定対象物によって生じた磁場の直交したベクトル成分で前記印加コイル面に平行なベクトル成分を検知する2つの磁気センサからなる少なくとも一組の磁気センサ手段を設け、前記印加コイル面から離して前記測定対象物に対向して配置され、前記磁気センサ手段の検出信号を計測する磁気センサ用計測手段を備え、この磁気センサ用計測手段の出力から前記印加コイルと同じ周波数の信号を検波するロックインアンプ回路を備え、この前記ロックインアンプ回路の出力信号により前記磁気センサの出力の強度と位相変化を解析する解析手段を備えたことを特徴とする。

請求項（抜粋）：

可変周波数の交流磁場を発生させる印加コイルと、 該印加コイルを励磁する励磁電源と、 測定対象物によって生じた磁場の直交したベクトル成分(X,Y)で印加コイル面に平行なベクトル成分を検知する一組の磁気センサからなる少なくとも1個の磁気センサ手段と、 前記印加コイル面から離間して、前記測定対象物に近接して配置され、前記磁気センサ手段の信号を検出する検出手段と、 該検出手段で検出された検出信号を計測する計測手段と、 を具えたことを特徴とする磁気的インピーダンス計測装置。

IPC (6件)：

G01N 27/72 ,  G01N 27/82 ,  G01V 3/08 ,  A61B 5/05 ,  G01R 33/12 ,  G01R 33/02

FI (6件)：

G01N27/72 ,  G01N27/82 ,  G01V3/08 A ,  A61B5/05 A ,  G01R33/12 Z ,  G01R33/02 K

Fターム (26件)：

2G005BA03 ,  2G017AA13 ,  2G017AD01 ,  2G017AD32 ,  2G017AD53 ,  2G017AD55 ,  2G017BA01 ,  2G017BA18 ,  2G053AA11 ,  2G053AA21 ,  2G053AB27 ,  2G053BA02 ,  2G053BA08 ,  2G053BC14 ,  2G053CA05 ,  2G053CA06 ,  2G053CA10 ,  2G053CA17 ,  2G053CB16 ,  2G053CB21 ,  2G053CB27 ,  2G053CB29 ,  2G053DB02 ,  4C027AA10 ,  4C027CC00 ,  4C027DD03

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 電流密度ベクトル推定装置および電気導電率推定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-331541   出願人：炭親良
• 電磁気探傷方法およびその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-010059   出願人：株式会社東芝