特許
J-GLOBAL ID：201503015422519590
光ファイバ式計測方法及び光ファイバ式計測装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
森 寿夫
, 森 廣三郎
, 木村 厚
, 黒住 智彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-085015
公開番号（公開出願番号）：特開2015-203692
出願日： 2014年04月16日
公開日（公表日）： 2015年11月16日
要約：
【課題】 試料に関する複数の物理量を簡便かつ高精度に測定できる光ファイバ式計測方法を提供する。【解決手段】 光源10と、入射用光ファイバ20と、外周面が試料Aに接触された第一導光体30と、中間用光ファイバ40と、外周面が試料Bに接触された第二導光体50と、出射用光ファイバ60と、検出器70とを用いて測定を行う。入射用光ファイバ20から第一導光体30に入射した光は、回折後、全反射しながら第一導光体30内を伝搬し、干渉光となって中間用光ファイバ40へ出射される。中間用光ファイバ40から第二導光体50に入射した光は、回折後、全反射しながら第二導光体50内を伝搬し、第一導光体30における干渉波長とは異なる干渉波長の干渉光となって出射用光ファイバ60へ出射された後、検出器70で検出される。これにより、試料Aの物理量QAに加えて、物理量QAと相関関係を有する試料Bの物理量QBも測定できる。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
光源と、
その前端が光源に接続された入射用光ファイバと、
その前端が入射用光ファイバの後端に接続されるとともに、その外周面が試料Aに接触された第一導光体と、
その前端が第一導光体の後端に接続された中間用光ファイバと、
その前端が中間用光ファイバの後端に接続されるとともに、その外周面が試料Bに接触された第二導光体と、
その前端が第二導光体の後端に接続された出射用光ファイバと、
出射用光ファイバの後端に接続された検出器と、
を用い、
光源から入射用光ファイバを介して第一導光体の前端に入射された光を第一導光体内で回折させ、
その回折光を第一導光体内で全反射させながら伝搬させて干渉させ、
第一導光体内で干渉された干渉光を中間用光ファイバへ出射させ、
第一導光体から中間用光ファイバを介して第二導光体の前端に入射された光を第二導光体内で回折させ、
その回折光を第二導光体内で全反射させながら伝搬させて第一導光体における干渉波長とは異なる干渉波長で干渉させ、
第二導光体内で干渉された干渉光を出射用光ファイバへ出射させ、
出射用光ファイバを伝搬する干渉光を検出器で検出することによって、試料Aの物理量QAに加えて、物理量QAと相関関係を有する試料Bの物理量QBも測定できるようにしたことを特徴とする光ファイバ式計測方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (11件)：
2G059AA03
, 2G059BB04
, 2G059DD13
, 2G059EE09
, 2G059GG01
, 2G059GG09
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059JJ17
, 2G059KK01
, 2G059NN02
