研究者

J-GLOBAL ID：200901059104621360 更新日: 2024年04月17日

佐々木修己

ササキオサミ | Sasaki Osami

所属機関・部署：
職名：教授
ホームページURL (1件)： http://teoptlab.eng.niigata-u.ac.jp/

研究分野 (2件)：計測工学 , 光工学、光量子科学

研究キーワード (4件)：光情報処理 , 光応用計測 , Optical Information Processing , Optical Measurements

競争的資金等の研究課題 (10件)：

1998 - 2007 光干渉断層画像
1996 - 2005 レーザ干渉計による精密計測
1994 - 2004 フォトリフラクティブ効果を用いる光応用計測
レーザ干渉法による波長以上の距離の絶対測定
機械的振動の影響を受けないレーザ干渉計

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MISC (74件)：

O Sasaki, C Togashi, T Suzuki. Two-dmensional rotation angle measurement using a sinusoidal phase-modulating baser diode interferometer. OPTICAL ENGINEERING. 2003. 42. 4. 1132-1136
Optical method for detecting displacement of a car in stereo images. Optical Engineering. 2003. Vol.42, No.7, pp.2092-2095
佐々木修己, 鈴木孝昌. 干渉計におけるフィードバック制御を用いたロバストなセンシング技術. 精密工学会誌. 2003. Vol.69, No.10, pp. 1379-1382. 10. 1379-1382
正弦波状波長走査干渉法による高分解能広領域計測. 光技術コンタクト. 2003. Vol.41, No.7,pp.33-39
"Sinusoidal-wavelength-scanning interferometer with double feedback control for real-time distance measurement,". Applied Optics. 2002. Vol.41, No.19, 3906-3910

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特許 (2件)：

「正弦波状波長走査干渉計及び正弦波状波長走査光源」, 日本国, 1999年10月15日
「コヒーレンス度を利用する干渉計」, 日本国, 1999年10月22日

Works (4件)：

斜め入射干渉法による円筒内面形状の測定
2003 -
レーザ干渉縞を用いるねじゲージの断面形状測定
2003 -
レーザ変位センサの高精度化について
2002 -
Measurement of absolute distance longer then a wave length
2002 -

学歴 (4件)：

- 1974 新潟大学工学研究科電子工学
- 1974 新潟大学
- 1972 新潟大学工学部電子工
- 1972 新潟大学

学位 (2件)：

工学博士 (東京工業大学)
工学修士 (新潟大学)

経歴 (3件)：

1974 - 2003 新潟大学工学部助手助教授教授
1974 - 2002 Research Assosiate, Assosiate Professor, Professor,
新潟大学

委員歴 (1件)：

1999 - 2001 日本光学会幹事

所属学会 (4件)：

日本光学会 , Optical Society of America , 応用物理学会 , 電子情報通信学会

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