谷城康眞

YASUMASA TANISHIRO

研究分野 (3件)：薄膜、表面界面物性 , 応用物性 , 半導体、光物性、原子物理

競争的資金等の研究課題 (26件)：

2007 - 2011 低加速ナノプローブで電子励起したナノ構造からの放射光角度分解分光観察
2004 - 2006 TEM-STM法による金ナノアイランド/MOX触媒活性量子効果観察
2004 - Development of 0.05nm resolution aberration corrected TEM/STEM.
2004 - 0.05nm分解能・透過-走査透過型・収差補正電子顕微鏡の開発
2000 - 2003 量子コンタクト

2001 - Mechanical and electronic properties, and the structure of nanowire studied by TEM-AFM

2001 - 超高真空高分解能透過電子顕微鏡-AFM法によるナノワイヤの原子構造、力、コンダクタンスの研究

1997 - 1998 超イオン伝導体走査探針による金属原子の連続付加による表面加工

1995 - 1997 双探針STM法の開発とその表面物性研究への応用

1995 - 1997 エピタクシャル成長のメカニズムとコヒーレント超薄膜の物性

1994 - 1995 超薄膜シリコンの物性と構造のRHEED・電気伝導度測定法による研究

1993 - 1994 再構成表面および金属吸着表面の内部応力の透過電子顕微鏡法による研究

1991 - 1992 シリコン表面における試料通電効果の反射電子顕微鏡法による研究

1991 - 1991 金属超格子を作る新しい試みのその場電顕法による研究

1987 - 1988 超高真空・高分解能電子顕微鏡法による表面・ヘテロ膜成長過程の研究

1986 - 1987 表面低温電子顕微鏡法の開発とその固体ガス吸着研究への応用

1986 - 1987 表面局在構造解析のためのSTM型表面電子顕微鏡の試作

1986 - 1986 超高真空電子顕微鏡による非平衡状態からの混晶成長と構造の解析

1986 - 1986 反射電子顕微鏡法によるイオンスパッター過程のその場観察

1984 - 1986 極超高真空電子顕微鏡による表面-結晶成長ミクロプロセスの研究

Surface Structure Analysis by Transmission Electron Diffraction

Surface Study by UHV High-resolution Electron Microscope with Omega-type Energy Filter

Atomic Structure and Quantumized Conductance of Nanowire Studied by UHV Electron Microscopy and STM.

透過電子回折法による表面構造解析

超高真空エネルギーフィルター電子顕微鏡による表面研究

電子顕微鏡-STM法によるナノワイヤの原子構造と量子化電子伝導の研究

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論文 (27件)：

Takayanagi, K., Oshima, Y., Lee, S., Tanaka, T., Tanishiro, Y. Nanocycles of materials' transport studied by in-situ electron microscopy and diffraction. Journal of Physics: Conference Series. 2014. 522. 012005 (6 pp.)
Takumi Sannomiya, Hidetaka Sawada, Tomohiro Nakamichi, Fumio Hosokawa, Yoshio Nakamura, Yasumasa Tanishiro, Kunio Takayanagi. Determination of aberration center of Ronchigram for automated aberration correctors in scanning transmission electron microscopy. ULTRAMICROSCOPY. 2013. 135. 71-79
高柳邦夫, 大島義文, 李少淵, 田中崇之, 谷城康眞. 収差補正電子顕微鏡と表面・界面科学. 表面科学 : hyomen kagaku = Journal of the Surface Science Society of Japan. 2013. 34. 5. 226-233
T. Harumoto, T. Sannomiya, Y. Matsukawa, S. Muraishi, J. Shi, Y. Nakamura, H. Sawada, T. Tanaka, Y. Tanishiro, K. Takayanagi. Controlled polarity of sputter-deposited aluminum nitride on metals observed by aberration corrected scanning transmission electron microscopy. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. 2013. 113. 8
Mitome Masanori, Sawada Hidetaka, Kondo Yukihito, Tanishiro Yasumasa, Takayanagi Kunio. Element discrimination in a hexagonal boron nitride nanosheet by aberration corrected transmission electron microscopy. ULTRAMICROSCOPY. 2012. 122. 6-11

MISC (230件)：

李少淵, 大島義文, 谷城康眞, 高柳邦夫. 27aCL-4 薄膜試料における環状明視野像メカニズムの解明(27aCL X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン)). 日本物理学会講演概要集. 2012. 67. 1. 1012-1012
Yoshifumi Oshima, Hidetaka Sawada, Fumio Hosokawa, Eiji Okunishi, Toshikatsu Kaneyama, Yukihito Kondo, Seiji Niitaka, Hidenori Takagi, Yasumasa Tanishiro, Kunio Takayanagi. Direct imaging of lithium atoms in LiV2O4 by spherical aberration-corrected electron microscopy. JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY. 2010. 59. 6. 457-461
竹下茜, 田中崇之, 日比野紘大, 沢田英敬, 近藤行人, 久保田忠弘, 三宅秀人, 大島義文, 谷城康眞, 高柳邦夫. 25pWZ-1 CuInSe_2結晶の欠陥のSTEM観察(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン)). 日本物理学会講演概要集. 2010. 65. 2. 920-920
Suhyun Kim, Yoshifumi Oshima, Hidetaka Sawada, Naoto Hashikawa, Kyoichiro Asayama, Tosikatu Kaneyama, Yukihito Kondo, Yasumasa Tanishiro, Kunio Takayanagi. A Dopant Cluster in a Highly Antimony Doped Silicon Crystal. APPLIED PHYSICS EXPRESS. 2010. 3. 8. 081301
Y. Oshima, Y. Hashimoto, Y. Tanishiro, K. Takayanagi, H. Sawada, T. Kaneyama, Y. Kondo, N. Hashikawa, K. Asayama. Detection of arsenic dopant atoms in a silicon crystal using a spherical aberration corrected scanning transmission electron microscope. PHYSICAL REVIEW B. 2010. 81. 3. 035317

書籍 (56件)：

表面物性工学ハンドブック第2版
丸善 2007
Spectro-microscopy by TEM-SEM
Lecture Note in Physics: Nanoscale Spectroscopy and Its Applications to Semiconductor Research 2002
Spectro-microscopy by TEM-SEM
Lecture Note in Physics: Nanoscale Spectroscopy and Its Applications to Semiconductor Research 2002
表面物性測定
丸善実験物理学講座 2001
Energy Filtering in UHV Reflection Electron Microscopy
Microbeam Analysis 2000 (Proc. 2nd Conf. of International Union of Microbeam Analysis Societies, Kailua-Kona, Hawaii, 2000, Eds. D.B.Wiliams and R.Shimizu) IOP Conf. Series 2000

講演・口頭発表等 (32件)：

Observation of Deformation and Rupture Process of Gold Nanowire Under the Stress
(Physical Society of Japan 2006)
Study of Structure and Electric Conduction of Silver Nanowires Using TEM-STM
(Physical Society of Japan 2006)
Observation of Structure and Conductance Measurement of Silver Nanowires Using TEM-STM III
(Physical Society of Japan 2006)
Structure Change of Au Nanowire Caused by Stress Change
(Physical Society of Japan 2006)
Development of Image Recording System for In-situ High-resolution TEM Observation: Lens-coupling Electron Multiplier CCD (EM-CCD) System
(The 16th International Microscopy Congress 2006)

学歴 (3件)：

- 1980 東京工業大学
- 1980 東京工業大学理工学研究科物理学
- 1978 東京工業大学理学部物理学科

学位 (1件)：

理学修士 (東京工業大学)

経歴 (8件)：

1998 - 2007 :Tokyo Institute of Technology Graduate School of Science and Engineering Assistant Professor
1998 - 2007 :東京工業大学大学院理工学研究科助手
2007 - -:Tokyo Institute of Technology Graduate School of Science and Engineering Assistant Professor
2007 - -:東京工業大学大学院理工学研究科助教
1986 - 1998 :Tokyo Institute of Technology Faculty of Science Assistant Professor

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委員歴 (6件)：

2007 - 2007 日本結晶学会平成19年度年会実行委員
2007 - 2007 日本結晶学会平成19年度年会実行委員
2003 - 2005 日本顕微鏡学会関東支部幹事
2003 - 2005 日本顕微鏡学会超分解能電子顕微鏡分科会責任者、関東支部幹事、関東支部幹事、関東支部評議員
1992 - 1993 日本物理学会表面界面分科世話人

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受賞 (8件)：

2004 - SSSJ Paper Award, The Surface Science Society of Japan
2004 - 日本表面科学会論文賞
2001 - Seto Award, Japanese Society of Electron Microscopy
2001 - 日本電子顕微鏡学会学会賞(瀬藤賞)
1990 - Tejima Award (Nakamura Prize), Tejima Organization

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所属学会 (10件)：

The Physical Society of Japan , The Crystallographic Society of Japan , American Physical Society , The Japanese Society of Microscopy , The Surface Science Society of Japan , 日本物理学会 , 日本結晶学会 , アメリカ物理学会 , 日本顕微鏡学会 , 日本表面科学会

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