福田光男

フクダミツオ | Fukuda Mitsuo

所属機関・部署：
職名：シニア研究員、名誉教授
ホームページURL (2件)： http.//www.photon.ee.tut.ac.jp , http://www.photon.ee.tut.ac.jp/

研究分野 (1件)：電子デバイス、電子機器

研究キーワード (4件)：フォトニクス , 光エレクトロニクス , Photonics , Optoelectronics

競争的資金等の研究課題 (10件)：

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論文 (90件)：

Mitsuo Fukuda, Yasuhiko Ishikawa. Simulation and evaluation of plasmonic circuits. International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, SISPAD. 2020. 2020-September. 265-267
Mitsuo Fukuda, Yuta Tonooka, Yasuhiko Ishikawa. Feasibility of Plasmonic Circuits Merged with Silicon Integrated Circuits. 2020 Pan Pacific Microelectronics Symposium, Pan Pacific 2020. 2020
Mitsuo Fukuda, Shinya Okahisa, Yuta Tonooka, Masashi Ota, Takuma Aihara, Yasuhiko Ishikawa. Feasibility of Plasmonic Circuits in Nanophotonics. IEEE Access. 2020. 8. 142495-142506
Mitsuo Fukuda, Ryo Watanabe, Yuta Tonooka, Masashi Ota. Feasibility of Cascadable Plasmonic Full Adder. IEEE Photonics Journal. 2019. 11. 4. 4801612-1-4801612-12
M. Fukudaa, Y. Tonooka, T. Inoue, M. Ota. Feasibility of plasmonic circuits for on-chip interconnects. Solid State Electronics. 2019. 156. 33-40

MISC (110件)：

石井佑弥, 石井佑弥, 延島大樹, 酒井平祐, 大森啓翔, 植村聖, 福田光男. 圧電的挙動と光導波性を示す発光性ポリマサブミクロンファイバ. 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM). 2018. 65th
平野智裕, 太田雅, 渡邊領, 石井佑弥, 福田光男. 表面プラズモンのモード変換を利用したプラズモニック半加算器. 電子情報通信学会技術研究報告. 2017. 117. 339(OPE2017 89-115)
石井佑弥, 延島大樹, 酒井平祐, 大森啓翔, 植村聖, 福田光男. 圧電的挙動と光導波性を示す生分解性ポリマサブミクロンファイバ. 電子情報通信学会技術研究報告. 2017. 117. 339(OPE2017 89-115)
外岡悠汰, 井上智陽, 太田雅, 石井佑弥, 福田光男. 信号伝送速度とエネルギー損失からみたプラズモニック配線と電気配線の比較. 電子情報通信学会技術研究報告. 2017. 117. 339(OPE2017 89-115)
古木崇裕, 太田雅, 石井佑弥, 福田光男. ボウタイ型金属導波路を用いたプラズモニック保持構造. 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM). 2017. 64th

特許 (9件)：

書籍 (11件)：

半導体部品の信頼性
丸善出版 2013
Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices
Springer 2013
プラズモニクス-光・電子デバイス開発最前線
(株)エヌ・ティー・エス 2011
光デバイスにおける接着剤と接着技術
シーエムシー出版 2010
Optical Semiconductor devices
John Wiley & Sons, New York 1999

Works (1件)：

学歴 (2件)：

学位 (1件)：

経歴 (21件)：

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委員歴 (12件)：

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受賞 (1件)：

1991 - Best Paper Award, Euro. Symp. on Reliability of Electron Device, Failure Physics and Analysis.

所属学会 (6件)：

IEEE , 応用物理学会 , 電子情報通信学会 , IEEE , The Japan Society of Applied Physics , Information and Communication Engineers

※　J-GLOBALの研究者情報は、researchmapの登録情報に基づき表示しています。登録・更新については、こちらをご覧ください。

福田 光男