研究者
J-GLOBAL ID:200901076082331780
更新日: 2022年09月12日
井上 晴行
イノウエ ハルユキ | Inoue Haruyuki
所属機関・部署:
大阪大学 大学院工学研究科 精密科学・応用物理学専攻
大阪大学 大学院工学研究科 精密科学・応用物理学専攻 について
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職名:
助手
研究分野 (1件):
光工学、光量子科学
研究キーワード (2件):
応用光学
, Applied Optics
競争的資金等の研究課題 (4件):
*
光散乱によるSiウエハ表面上の微粒子・微小欠陥の計測
*
Measurement of Ultra Fine Particles and Very Small Defects on the Si Wafer Surface Using a Light Scattering Method
MISC (20件):
押鐘 寧, 片岡 俊彦, 遠藤 勝義, 野口 彰宏, 井上 晴行, 中野 元博. 光ファイバの点光源回折球面波を計測の絶対基準とした位相シフト光干渉計の開発. 精密工学会誌. 2003. 69. 5. 678-682
井上 晴行, 片岡 俊彦, 押鐘 寧, 遠藤 勝義, 森 勇藏, 中野 元博, 安 弘, 里見 慎哉, 和田 勝男. レーザー光散乱法によるSiウエハ表面上の超微小欠陥計測. 精密工学会誌. 2002. 68(10), 1337. 10. 1337-1341
佐々木 都至, 安 弘, 森 勇藏, 片岡 俊彦, 遠藤 勝義, 山内 和人, 井上 晴行. ナノパーティクル測定器によるシリコンウエハ面のナノ欠陥計測. 精密工学会誌. 2002. 68. 9. 1200-1205
井上 晴行, 片岡 俊彦, 遠藤 勝義, 押鐘 寧, 森 勇藏, 中野 元博, 安 弘, 竹村 太一, 和田 勝男. レーザー光散乱法によるSiウエハ付着微粒子計測. 精密工学会誌. 2002. 68(2), 264. 2. 264-268
片岡 俊彦, 井上 晴行, 遠藤 勝義, 押鐘 寧, 森 勇藏, 中野 元博, 和田 勝男, 安 弘. シリコンウエハ表面上の微粒子・微小欠陥による光散乱-散乱光強度およびレンズによる像形成の計算-. 精密工学会誌. 1999. 66. 11. 1716-1722
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学歴 (2件):
- 1971 大阪工業大学 工学部 機械工学科
- 1971 大阪工業大学
学位 (1件):
博士(工学) (大阪大学)
受賞 (3件):
2003 - 精密工学賞
1995 - 精密工学会関西支部講演論文集
1995 - 精密工学会 沼田記念論文賞
所属学会 (2件):
応用物理学会
, 精密工学会
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