研究者

J-GLOBAL ID：200901092842837561 更新日: 2020年06月09日

片岡憲一

カタオカケンイチ | Kataoka Kenichi

所属機関・部署：
職名：助手

研究分野 (2件)：電子デバイス、電子機器 , 応用物理一般

研究キーワード (6件)： Micro machine , Micro system , Testing of Semiconductor device , マイクロマシン , マイクロシステム , 半導体デバイス検査

競争的資金等の研究課題 (2件)：

フリッティングコンタクトを利用したMEMSプローブカード
MEMS Probe Cards Utilizing Fritting Contact

MISC (16件)：

Multi-layer electroplated micro-spring array for MEMS probe card. Technical Digest of 17th IEEE International Conference on Micro Electro Mechanical Systems. 2004. 733
Multi-layer electroplated micro-spring array for MEMS probe card. Technical Digest of 17th IEEE International Conference on Micro Electro Mechanical Systems. 2004. 733
K Kataoka, T Itoh, T Suga. Characterization of fritting phenomena on al electrode for low contact force probe card. IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS AND PACKAGING TECHNOLOGIES. 2003. 26. 2. 382-387
K Kataoka, T Itoh, T Suga. Characterization of fritting phenomena on al electrode for low contact force probe card. IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS AND PACKAGING TECHNOLOGIES. 2003. 26. 2. 382-387
Low contact force fritting probe card using buckling microcantilevers. Proceedings of International Test Conference 2003 (ITC2003). 2003. 1009-1013

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学歴 (4件)：

- 2001 東京大学工学系研究科精密機械工学
- 2001 東京大学
- 1997 東京大学工学部精密機械工学科
- 1997 東京大学

学位 (1件)：

修士(工学) (東京大学)

経歴 (4件)：

2001 - 2003 東京大学先端科学技術研究センター助手
2001 - 2003 Research Associate, Research Center for
University of Tokyo
Advanced Science and Technology, the

所属学会 (2件)：

応用物理学会 , 精密工学会

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