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J-GLOBAL ID：200902042013250800   整理番号：87A0051372

表面電子顕微鏡法

Surface electron microscopy.

著者 (3件)： 八木克道 (東京工大 理) ,  谷城康真 (東京工大 理) ,  高柳邦夫 (東京工大 理)
資料名： 応用物理  (JSAP International)
巻： 55  号： 11  ページ： 1036-1050  発行年： 1986年11月 
JST資料番号： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 表面は今や二次元系の物理の代表例として,基礎,応用の両面から...

シソーラス用語： 表面分析 ,...

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分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  固体の表面構造一般  (BK15010E)

引用文献 (81件)：

• 1) 小間 篤他編:表面物性ハンドブック(丸善1987刊行予定).
• 2) G. A. Somorjai: Surf. Sci. 89 (1979) 496.
• 3) P. M. Petroff, A. C. Gossard and W. Wiegmann: Appl. Phys., Lett, 45 (1984) 620.
• 4) M. Kawabe and T. Ueda. Jpn. J. Appl. Phys. 25 (1986) L 288 および引用文献.
• 5) M. G. Lagally: Chemistry and Physics of Solid Surfaces, ed. R. Vanselow and R. Howe (Springer-Verlag, Berlin, 1982) Vol. 4, Chap. 12, p. 281.

タイトルに関連する用語 (1件)： 電子顕微鏡法