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J-GLOBAL ID：200902064828988395   整理番号：87A0365944

特集;光応用計測 プリント基板パターンの欠陥検査

Special issue on applied optical measurement. Automatic inspection of defects in printed circuit board patterns.

著者 (1件)： 原靖彦 (日立 生産技研)
資料名： 計測と制御  (Journal of the Society of Instrument and Control Engineers)
巻： 26  号： 4  ページ： 327-330  発行年： 1987年04月 
JST資料番号： F0131A  ISSN： 0453-4662  CODEN： KESEA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 標記の検査技術を市販装置例について紹介した。パターン検出法と...

シソーラス用語： プリント基板 ,...

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分類 (2件)： プリント回路  (NA05040O) ,  図形・画像処理【’81~’92】  (JE04000X)

引用文献 (19件)：

• 1) R. T. Chin and C. A. Harlow: Automated Visual Inspection, IEEE Trans. Pattern Analysis and Machine Intelligence, PAMI 4-6, 557/573 (1982)
• 2) M. A. West et al.: Computer-Controlled Optical Testing of High-Density Printed-Circuit Boards, IBM J. Res. Develop., 27-1, 50/58 (1983)
• 3) J. R. Mandeville: Novel Method for Analysis of Printed Circuit Images, IBM J. Res. Develop., 29-1, 73/86 (1935)
• 4) M. Ejiri et al.: A Process for Detecting Defects in Complicated Patterns, Computer Graphics and Image Processing, 2, 326/339 (1973)
• 5) 安藤, 稲垣, 中野: プリント配線板銅箔パターン自動検査システム, FUJITSU, 35-6, 721/729 (1984)

タイトルに関連する用語 (3件)： 光応用計測 ,  プリント基板 ,  欠陥検査