文献
J-GLOBAL ID:200902101018952397
整理番号:97A0524373
斜入射MBE法により作製したGaAs/AlGaAs斜めT字形量子細線のCL測定 (5)
CL measurement of tilted T-shaped GaAs/AlGaAs quantum wire fabricated by glancing angle MBE. (5).
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