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J-GLOBAL ID：200902104793628538   整理番号：01A0776939

シンクロトロン放射光による単結晶微小部のX線応力測定

X-Ray Stress Measurements of Single Crystal in Local Area Using Synchrotron Radiation.
著者 (4件)：
鈴木裕士

鈴木裕士 について

(東京都大 大学院)

東京都大 大学院 について

, 
秋田貢一

秋田貢一 について

(東京都大 大学院工学研究科)

東京都大 大学院工学研究科 について

, 
吉岡靖夫

吉岡靖夫 について

(武蔵工大 工)

武蔵工大 工 について

, 
三沢啓志

三沢啓志 について

(東京都大 大学院工学研究科)

東京都大 大学院工学研究科 について


資料名：
材料  (Journal of the Society of Materials Science, Japan)

材料 について


巻： 50  号： 7  ページ： 783-789  発行年： 2001年07月15日 
JST資料番号： F0385A  ISSN： 0514-5163  CODEN： ZARYA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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シンクロトロン放射光(SR)を使ってSi単結晶微小部(直径約...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*X線応力測定

X線応力測定 について

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分類 (2件)：
分類
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固体の機械的性質一般 
(BL01021C)

固体の機械的性質一般 について

,  X線回折法 
(BK01020I)

X線回折法 について

タイトルに関連する用語 (4件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
シンクロトロン放射光

シンクロトロン放射光 について

, 
単結晶

単結晶 について

, 
微小

微小 について

, 
X線応力測定

X線応力測定 について


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