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J-GLOBAL ID：200902113865252910   整理番号：00A0121199

空中の橋構造のSiナノ細線と異常な伝導率

Air-bridge-structured silicon nanowire and anomalous conductivity.

著者 (4件)： FUJII H (Japan Sci. and Technol. Corp.(JST), Saitama, JPN) ,  KANEMARU S (Electrotechnical Lab., Ibaraki, JPN) ,  MATSUKAWA T (Electrotechnical Lab., Ibaraki, JPN) ,  ITOH J (Electrotechnical Lab., Ibaraki, JPN)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 75  号： 25  ページ： 3986-3988  発行年： 1999年12月20日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 空中の橋構造Siナノ細線を絶縁体上Si基板のマイクロマシニン...

シソーラス用語： *細線 ,...
準シソーラス用語： ナノ細線

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分類 (2件)： 半導体薄膜  (BK14040E) ,  半導体結晶の電気伝導  (BM03043X)

タイトルに関連する用語 (4件)： 橋 ,  Si ,  ナノ細線 ,  伝導率