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J-GLOBAL ID：200902114650756263   整理番号：01A0324145

電子プローブマイクロアナリシスによる浮遊粒子状物質の発生源配分のための個別粒子分析

Individual particle analysis for source apportionment of suspended particulate matter using electron probe microanalysis.

著者 (4件)： KIM B A (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  TOMIYASU B (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  OWARI M (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  NIHEI Y (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名： Surface and Interface Analysis  (Surface and Interface Analysis)
巻： 31  号： 2  ページ： 106-113  発行年： 2001年02月 
JST資料番号： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 個々の浮遊粒子状物質(SPM)を電子プローブマイクロアナリシ...

シソーラス用語： *電子プローブX線分析 ,...
準シソーラス用語： *大気汚染質 ,...

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分類 (2件)： 大気中の汚染物質の物理分析  (CC03060R) ,  粒状物調査測定  (SB03060E)

タイトルに関連する用語 (4件)： 浮遊粒子状物質 ,  発生源 ,  配分 ,  粒子分析