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J-GLOBAL ID：200902115649665935   整理番号：02A0609423

M系列相関とニューラルネットワークを用いる論理回路の故障診断

Fault Diagnosis of a Logical Circuit by Use of M-Sequence Correlation with Neural Network.

著者 (1件)： 宮田千加良 (鹿児島工高専)
資料名： 計測自動制御学会論文集  (Transactions of the Society of Instrument and Control Engineers)
巻： 38  号： 6  ページ： 517-520  発行年： 2002年06月30日 
JST資料番号： S0104A  ISSN： 0453-4654  CODEN： KJSRA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 一部の故障回路から算出したM相関と故障候補の故障発生確率との...

シソーラス用語： *故障診断 ,...
準シソーラス用語： M系列信号

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分類 (2件)： 論理回路  (NC05070B) ,  人工知能  (JE08000Z)

引用文献 (16件)：

• YAU, S. S. An Efficient Algorithm for Generating Complete Test Sets for Combinational Logic Circuits. IEEE Trans. on Computers. 1971, C-20, 1245-1251
• 玉本英夫. 論理回路の故障診断. 1983
• 樹下. ディジタル回路の故障診断. 1983, 上
• AGRAWAL, P. Probabilistic Analysis of Random Test Generation Method for Irredundant Combinational Logic Networks. IEEE Trans. on Computers. 1975, C-24-7, 691-694
• DAVID, R. Fault Diagnosis of RAM's from Random Testing Experiments. IEEE Trans. on Computers. 1990, 39-2, 220-229

タイトルに関連する用語 (5件)： M系列 ,  相関 ,  ニューラルネットワーク ,  論理回路 ,  故障診断