文献

J-GLOBAL ID：200902116094486602   整理番号：96A0176175

回路と実装技術の現状と今後の動向 回路・実装のキーテクノロジを探る 検査技術の最近の話題と動向

Status and Trends of Interconnecting and Packaging Technologies. Key Technologies for Interconnecting and Packaging Electronic Circuits. Recent Topics and Trend in Inspection Technology.

著者 (1件)： 秋山伸幸 (長岡技科大)
資料名： 回路実装学会誌  (Journal of Japan Institute for Interconnecting and Packaging Electronic Circuits)
巻： 11  号： 1  ページ： 22-24  発行年： 1996年01月 
JST資料番号： X0497A  ISSN： 1341-0571  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： プリント回路板の製造工程におけるインプロセス検査技術の内,最...

シソーラス用語： 非破壊検査 ,...
準シソーラス用語： MCM【実装】

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=96A0176175&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=X0497A") }}

分類 (2件)： プリント回路  (NA05040O) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (10件)：

• 原靖彦. 検査の概要及び配線パターンの検査技術. 回路実装学会誌. 1995, 10, 6, 424
• 目瀬道弘. 複雑パターンを対象とした傷抽出装置方式. 電子学会論文誌. 1974, 94-C, 89
• 原靖彦. 蛍光を利用した画像検出とその応用. 精密工学会誌. 1990, 56, 8, 1381
• 原靖彦. 回路パターンの致命性判定法. 精密工学会誌. 1995, 61, 6, 844
• 中川泰夫. スポット光走査方式光切断法によるはんだ付部の形状検出. 計測自動制御学会論文集. 1986, 22, 9, 982

タイトルに関連する用語 (6件)： 実装 ,  現状 ,  動向 ,  キー ,  テクノロジ ,  話題