文献

J-GLOBAL ID：200902146473905678   整理番号：95A0579120

回路パターン欠陥の致命性判定法

Recognition of Fatality of Defects in Circuit Patterns.

著者 (6件)： 原靖彦 (日立 生産技研) ,  土井秀明 (日立 生産技研) ,  柄崎晃一 (日立) ,  飯田正 (日立) ,  北村茂樹 (日立画像情報システム) ,  古谷貴史 (日立画像情報システム)
資料名： 精密工学会誌  (Journal of the Japan Society for Precision Engineering)
巻： 61  号： 6  ページ： 844-848  発行年： 1995年06月 
JST資料番号： F0268A  ISSN： 0912-0289  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： プリント配線板パターン検査で,人が行う致命性判定の基準を,そ...

シソーラス用語： 処理装置 ,...

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分類 (1件)： 電気・電子部品一搬  (NA05010H)

引用文献 (6件)：

• 安藤護俊. プリント配線板外観検査技術の動向. サ-キットテクノロジ-. 1988, 3,5, 312
• 原靖彦. プリント基板パタ-ンの欠陥検査. 計測と制御. 1987, 26,4, 327
• CHIN, R. T. SURVEY Automated Visual Inspection: 1981 to 1987, Computer Vision, Graphics, and Image Processing. 1988, 41, 346
• NAKASHIMA, M. Automatic Mask Pattern Inspection for Printed Circuit Boards. FUJITU Scientific and Technical J. 1981, 105
• 酒匂 裕. 実時間半導体ウエハ外観検査アルゴリズム. 電子通信学会論文誌. 1986, J69-D,11, 1687

タイトルに関連する用語 (1件)： パターン欠陥