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J-GLOBAL ID：200902125596819027   整理番号：99A0178582

テラヘルツマッピングによるイオン注入YBCO薄膜の磁束トラップ評価

Magnetic flux trap in ion implanted YBCO thin films diagnosed by terahertz mapping.

著者 (6件)： 紀和利彦 (大阪大) ,  山下将嗣 (大阪大) ,  森川治 (大阪大) ,  中村孝夫 (住友電気工業) ,  斗内政吉 (大阪大) ,  萩行正憲 (大阪大)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
巻： 59th  号： 1  ページ： 164  発行年： 1998年09月 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (7件)： テラヘルツ ,  マッピング ,  イオン注入 ,  YBCO薄膜 ,  磁束 ,  トラップ ,  評価