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J-GLOBAL ID：200902128223747432   整理番号：00A0751735

転換電子¹¹⁹Sn Moessbauer分光法とHall効果測定によるすずドープIn₂O₃膜におけるドナー補償及びキャリア輸送機構の研究

Donor Compensation and Carrier-Transport Mechanisms in Tin-doped In₂O₃ Films Studied by Means of Conversion Electron ¹¹⁹Sn Moessbauer Spectroscopy and Hall Effect Measurements.

著者 (6件)： YAMADA N (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  YASUI I (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  SHIGESATO Y (Aoyamagakuin Univ., Tokyo, JPN) ,  LI H (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  UJIHARA Y (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  NOMURA K (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 39  号： 7A  ページ： 4158-4163  発行年： 2000年07月15日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： すずドープ酸化インジウム(ITO)薄膜におけるドナー補償とキ...

シソーラス用語： *酸化インジウム ,...
準シソーラス用語： ITO【固溶体】

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分類 (2件)： 半導体結晶の電気伝導  (BM03043X) ,  その他の無機化合物のMoessbauer効果  (BM07083R)

引用文献 (33件)：

• 1) I. Hamberg and C. G. Granqvist: J. Appl. Phys. 60 (1986) R123.
• 2) T. Kamimori, J. Nagai and M. Mizuhashi: Sol. Energy Mater. 16 (1987) 27.
• 3) H. Koh, K. Sawada, M. Ohgawara, T. Kuwata, M. Akatsuka and M. Matsuhiro: SID Dig. Tech. 19 (1988) 53.
• 4) H. Kobayashi, T. Ishida, Y. Nakato and H. Tsubomura: J. Appl. Phys. 69 (1991) 1736.
• 5) P. Nath, R. F. Bunshah, B. M. Masel and O. M. Stuffsud: Thin Solid Films 72 (1980) 463.

タイトルに関連する用語 (9件)： 転換電子 ,  Moessbauer分光法 ,  Hall効果 ,  すず ,  ドープ ,  ドナー ,  補償 ,  キャリア輸送 ,  研究