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J-GLOBAL ID：200902131874310416   整理番号：02A0008256

電荷密度研究用にSPring-8のBL02B2に設置した大型Debye-Scherrerカメラ

The large Debye-Scherrer camera installed at SPring-8 BL02B2 for charge density studies.

著者 (9件)： NISHIBORI E (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  TAKATA M (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  KATO K (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  SAKATA M (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  KUBOTA Y (Osaka Women’s Univ., Osaka, JPN) ,  AOYAGI S (Okayama Univ., Okayama, JPN) ,  KUROIWA Y (Okayama Univ., Okayama, JPN) ,  YAMAKATA M (JASRI, Hyogo, JPN) ,  IKEDA N (JASRI, Hyogo, JPN)
資料名： Journal of Physics and Chemistry of Solids  (Journal of Physics and Chemistry of Solids)
巻： 62  号： 12  ページ： 2095-2098  発行年： 2001年12月 
JST資料番号： C0202A  ISSN： 0022-3697  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 検出器としてイメージングプレートを用いる標記カメラの設計と性...

シソーラス用語： *X線カメラ ,...
準シソーラス用語： Debye-Scherrer法

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分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 電荷密度 ,  研究 ,  SPring-8 ,  大型