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J-GLOBAL ID：200902133861842756   整理番号：99A0562594

Al薄膜/LB薄膜上に共鳴励起した表面プラズモンによるエバネッセント場の検出とその強度特性

Evaluation of Evanescent Fields on Al Thin Film/LB Thin Film Caused by Resonantly Excited Surface Plasmons.

著者 (7件)： 中野貴之 (新潟大) ,  小林肇 (新潟大) ,  金子双男 (新潟大) ,  新保一成 (新潟大) ,  加藤景三 (新潟大) ,  川上貴浩 (新潟大) ,  若松孝 (茨城工高専)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 99  号： 79(OME99 12-22)  ページ： 35-40  発行年： 1999年05月21日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本研究では,CdSを塗布した金属針プローブ型の検出装置を用い...

シソーラス用語： アルミニウム ,...
準シソーラス用語： *LB膜

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分類 (2件)： 固体デバイス材料  (NC03020K) ,  有機化合物の薄膜  (BK14070L)

物質索引 (1件)： アラキジン酸

引用文献 (8件)：

• AGRANOVICH, V. M. eds. Surface Polaritons. 1982
• 大橋健一. ドナー性分子吸着TCNQLB膜の全反射減衰法による評価. レーザ研究. 1997, 25, 1, 72-76
• 深海徹夫. 全反射減衰法によるシアニン色素吸着アゾベンゼンLB膜の光学特性と熱処理特性の評価. 電学論A. 1998, 118, 1
• 若松孝. スピロピランLB膜の超薄膜構造と全反射減衰による評価. 電学論A. 1996, 116, 1
• BABA, A. Evaluation of Tilt Angles of Nematic Liquid Crystal Molecures on Polyimide Langmuir-Blodgett Films using the Attenuated Total Reflection Measurement Method. Jpn. J. Appl. Phys. 1998, 37, 2581-2586

タイトルに関連する用語 (6件)： Al ,  薄膜 ,  共鳴励起 ,  表面プラズモン ,  エバネッセント場 ,  強度特性