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J-GLOBAL ID：200902186618606048   整理番号：96A0156920

スピロピランLB膜の超薄膜構造と全反射減衰法による評価

Structure and Optical Properties of Spiropyran LB Ultrathin Films Using Attenuated Total Reflection Method.

著者 (6件)： 若松孝 (茨城高専) ,  大口寿史 (新潟大) ,  斉木仁 (新潟大) ,  新保一成 (新潟大) ,  加藤景三 (新潟大) ,  金子双男 (新潟大)
資料名： 電気学会論文誌 A  (IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials)
巻： 116  号： 1  ページ： 55-61  発行年： 1996年01月 
JST資料番号： S0808A  ISSN： 0385-4205  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 標記手法は金属界面に局在する表面プラズモンの共鳴励起を利用し...

シソーラス用語： Langmuir膜 ,...
準シソーラス用語： 全反射減衰法 ,...

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分類 (2件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  その他の光学的効果  (BM08040H)

引用文献 (10件)：

• CARTER, F. L. Molecular Electronic Devices. 1988
• AGRANOVICH, V. M. Surface Polaritons. 1982
• 若松. 銀薄膜上のLB膜の全反射減衰法による測定. 電気学会誘電・絶縁 材料研資. 1993, DEI-93-126 ; OME93-40, 7
• 金子. 全反射減衰法による金属薄膜上のアラキジン酸カドミウム塩LB超薄膜の構造評価. 電学論A. 1995, 115
• HONDA, S. Attenuated Total Reflection Properties in LB Ultrathin Films on Silver Thin Films. Proc. of 1st Magneto-Electronics Int. Symp. 1994, 241

タイトルに関連する用語 (5件)： スピロピラン ,  LB膜 ,  超薄膜 ,  全反射減衰法 ,  評価