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J-GLOBAL ID：200902140453855609   整理番号：94A0625504

Comparison measurement in the hundred nanometer range with a crystalline lattice using a dual tunneling-unit scanning tunneling microscope.

著者 (7件)： KAWAKATSU H (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  HIGUCHI T (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  KOUGAMI H (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  KAWAI M (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  WATANABE M (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  HOSHI Y (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  NISHIOKI N (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名： Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures  (Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures)
巻： 12  号： 3  ページ： 1681-1685  発行年： 1994年05月 
JST資料番号： E0974A  ISSN： 1071-1023  CODEN： JVTBD9  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)