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J-GLOBAL ID：200902142493943260   整理番号：01A1066348

銅めっき法とX線解析マイクロスコピーの組合せによるSi(Li)検出器の評価

Evaluation of Si(Li) Detectors by a Combination of the Copper Plating Method and X-Ray Analytical Microscopy.
著者 (4件)：
KUME H

KUME H について

(National Inst. Environmental Studies, Tsukuba, JPN)

National Inst. Environmental Studies, Tsukuba, JPN について

, 
ONABE H

ONABE H について

(Raytech Co., Ltd., Utsunomiya, JPN)

Raytech Co., Ltd., Utsunomiya, JPN について

, 
OBINATA M

OBINATA M について

(Tohnic Co., Ltd., Chigasaki, JPN)

Tohnic Co., Ltd., Chigasaki, JPN について

, 
KASHIWAGI T

KASHIWAGI T について

(Kanagawa Univ., Yokohama, JPN)

Kanagawa Univ., Yokohama, JPN について


資料名：
IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)

IEEE Transactions on Nuclear Science について


巻： 48  号： 4,Pt.1  ページ： 1012-1015  発行年： 2001年08月 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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マイクロビームX線蛍光法によって,銅めっきしたLiイオン補償...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*LiドリフトSi検出器

LiドリフトSi検出器 について

,...
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分類 (1件)：
分類
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スペクトル計測及びスペクトロメータ 
(AD08030U)

スペクトル計測及びスペクトロメータ について

タイトルに関連する用語 (8件)：
タイトルに関連する用語
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銅めっき

銅めっき について

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X線解析

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, 
マイクロスコピー

マイクロスコピー について

, 
組合せ

組合せ について

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Si

Si について

, 
Li

Li について

, 
検出器

検出器 について

, 
評価

評価 について


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