Surface and interface characterization of high T<sub>c</sub> related epitaxial films by STM/STS and XPS.

文献

J-GLOBAL ID：200902164843844299 整理番号：94A0116460

Surface and interface characterization of high T_c related epitaxial films by STM/STS and XPS.

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巻： 54 号： 10 ページ： 1215-1218 発行年： 1993年10月
JST資料番号： C0202A ISSN： 0022-3697 資料種別：逐次刊行物 (A)
発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

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