文献

J-GLOBAL ID：200902166510001564   整理番号：00A0582813

走査非線形誘電顕微鏡を用いた極性及び非極性基板上のZnO薄膜の極性の決定

Determination of the Polarities of ZnO Thin Films on Polar and Nonpolar Substrates Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy.

著者 (4件)： KAZUTA S (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  CHO Y (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  ODAGAWA H (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  KADOTA M (Murata Mfg. Co., Ltd., Kyoto, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 39  号： 5B  ページ： 3121-3124  発行年： 2000年05月30日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 開発した標記顕微鏡(SNDM)は試料の分極に応じてその符号を...

シソーラス用語： *酸化亜鉛 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=00A0582813&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=G0520B") }}

分類 (2件)： 酸化物薄膜  (BK14050P) ,  誘電体測定技術・装置  (BM05020Q)

引用文献 (12件)：

• 1) K. Nakamura and T. Hanaoka: Jpn. J. Appl. Phys. 32 (1993) 2333.
• 2) Y. Cho, A. Kirihara and T. Saeki: Rev. Sci. Instrum. 67 (1996) 2297.
• 3) Y. Cho, A. Kirihara and T. Saeki: Jpn. J. Appl. Phys. 36 (1997) 360.
• 4) Y. Cho, S. Atsumi and K. Nakamura: Jpn. J. Appl. Phys. 36 (1997) 3152.
• 5) Y. Cho, K. Matsuura and J. Kushibiki: Jpn. J. Appl. Phys. 37 (1998) 3132.

タイトルに関連する用語 (6件)： 走査 ,  非線形 ,  顕微鏡 ,  極性 ,  非極性 ,  ZnO薄膜