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J-GLOBAL ID：200902168129422327   整理番号：98A0639523

部分2重化とIDDQテストによる論理回路のランダムテスト容易化手法

Random Pattern Testable Design with Partial Circuit Duplication and I_DDQ Testing.

著者 (3件)： 横山洋之 (秋田大 鉱山) ,  WEN X (Syn Test Technologies Inc., CA, USA) ,  玉本英夫 (秋田大 鉱山)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 D-1  (IEICE Transactions on Information and Systems, Pt.1 (Japanese Edition))
巻： J81-D-1  号： 6  ページ： 851-860  発行年： 1998年06月 
JST資料番号： S0757B  ISSN： 0915-1915  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： LSIが大規模になり,そのテストはますます困難なものとなって...

シソーラス用語： *故障検出 ,...
準シソーラス用語： IDDQ

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分類 (2件)： 論理回路  (NC05070B) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (22件)：

• AGARWAL, V. K. A tutorial on builtin self test. Trans. of IEEE Design & Test of Comp. 1993, 69-77
• KAGARIS, D. A design for testability technique for test pattern generation with LFSRs. Proc. of VLSI Test Symp. ' 94. 1994, 68-73
• ALSHAIBI, M. F. MFBIST : A BIST method for random pattern resistant circuits. Proc. of ITC'96. 1996, 176-185
• MURADALI, F. A new procedure for weighted random Built-In Self-Test. Proc. of ITC'90. 1990, 660-669
• MIRANDA, M. A. Generation of optimized single distributions of weights for random Built-In Self Test. Proc. of ITC'93. 1993, 1023-1050

タイトルに関連する用語 (6件)： 2重化 ,  テスト ,  論理回路 ,  ランダムテスト ,  容易 ,  手法