文献

J-GLOBAL ID：200902169293690142   整理番号：97A0137482

テスティング技術 遺伝的アルゴリズムを用いた組込み型多重重み付けランダムテストの最適化手法

Built-In Multiple Weighted Random Testing Based on Genetic Algorithms.

著者 (2件)： 横山洋之 (秋田大 鉱山) ,  玉本英夫 (秋田大 鉱山)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 D-1  (IEICE Transactions on Information and Systems, Pt.1 (Japanese Edition))
巻： 79  号： 12  ページ： 1083-1091  発行年： 1996年12月 
JST資料番号： S0757B  ISSN： 0915-1915  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： LSIの製造コストに占めるテストコストが増大し,いかにLSI...

シソーラス用語： 最適化手法 ,...

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分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (20件)：

• AGARWAL, V. K. A tutorial on builtin self test. Trans. of IEEE Design & Test of Comp. 1993, 69-77
• HELLEBRAND, S. Generating pseudo-exhaustive vectors for external testing. Proc. of ITC90. 1990, 670-679
• MURADALI, F. A new procedure for weighted random built-in self-test. Proc. of ITC90. 1990, 660-669
• MIRANDA, M. A. Generation of optimized single distributions of weights for random built-in self test. Proc. of ITC93. 1993, 1023-1050
• WUNDERLICH, H. -J. Multiple distributions for biased random test patterns. Proc. of ITC88. 1988, 236-244

タイトルに関連する用語 (6件)： 遺伝的アルゴリズム ,  組込み ,  多重 ,  重み付け ,  ランダムテスト ,  最適化手法