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J-GLOBAL ID：200902173572805577   整理番号：01A0059378

Ir-Mn系における交換相互作用バイアス効果を有する単一および二重トンネル接合の磁気抵抗比に関する障壁幅,障壁の高さおよびDCバイアス電圧依存性の間の相関

Correlation between Barrier Width, Barrier Height, and DC Bias Voltage Dependences on the Magnetoresistance Ratio in Ir-Mn Exchange Biased Single and Double Tunnel Junctions.

著者 (6件)： SAITO Y (Toshiba Corp., Kawasaki, JPN) ,  AMANO M (Toshiba Corp., Kawasaki, JPN) ,  NAKAJIMA K (Toshiba Corp., Kawasaki, JPN) ,  TAKAHASHI S (Toshiba Corp., Kawasaki, JPN) ,  SAGOI M (Toshiba Corp., Kawasaki, JPN) ,  INOMATA K (Toshiba Corp., Kawasaki, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters)
巻： 39  号： 10B  ページ： L1035-L1038  発行年： 2000年10月15日 
JST資料番号： F0599B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 二個のスピン-バルブ型二重トンネル接合(DTJ)Ir-Mn...

シソーラス用語： *トンネル接合 ,...

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分類 (1件)： 金属-絶縁体-金属構造  (BM03087F)

引用文献 (20件)：

• 1) T. Miyazaki and N. Tezuka: J. Magn. & Magn. Mater. <B>139</B> (1995) L231.
• 2) J. S. Moodera, L. R. Kinder, T. M. Wong and R. Meservey: Phys. Rev. Lett. 74 (1995) 3273.
• 3) S. P. Parkin, K. P. Roche, M. G. Samant, P. M. Rice, R. B. Beyers, R. E. Scheuerlein, E. J. O’Sulivan, S. L. Brown, J. Bucchigano, D. W. Abraham, Y. Lu, M. Rooks, P. L. Trouilloud, R. A. Wanner and W. J. Gallagher: J. Appl. Phys. 85 (1999) 5828.
• 4) S. Tehrani, J. M. Slaughter, E. Chen, M. Durlam, J. Shi and M. de Herrera: IEEE Trans. Magn. 35 (1999) 2814.
• 5) J. S. Moodera, J. Nowark and R. J. M. van de Veerdonk: Phys. Rev. Lett. 80 (1998) 2941.

タイトルに関連する用語 (10件)： Ir ,  Mn ,  交換相互作用 ,  バイアス ,  トンネル接合 ,  磁気抵抗 ,  障壁 ,  DC ,  電圧依存性 ,  相関