文献

J-GLOBAL ID：200902173734708503   整理番号：96A0414774

固有初期値伝播法を用いた部分スキャン回路のテスト生成

Test Generation for Partial Scan Circuits Using Individual Initial Value Propagation.

著者 (3件)： 村井真一 (三菱電機 システムLSI研) ,  荻原拓治 (三菱電機) ,  米森玄一 (三菱電機 システムLSI研)
資料名： 情報処理学会論文誌  (IPSJ Journal)
巻： 37  号： 3  ページ： 409-417  発行年： 1996年03月 
JST資料番号： Z0778A  ISSN： 0387-5806  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 非スキャン同期回路および部分スキャン回路のクロックをOFFに...

シソーラス用語： 回路試験 ,...

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分類 (2件)： CAD,CAM  (JE10000A) ,  論理回路  (NC05070B)

引用文献 (12件)：

• FUNATSU, S. Test Generation System in Japan. Proc. 12th Design Automation Symposium. 1975, 114-122
• EICHELBERGER, E. B. A Logic Design Structure for LSI Testing. Proc. 14th Design Automation Conference. 1977, 462-468
• 辺保久. テスト不能故障抽出のための一手法. 情報処理学会設計自動化研究会報告,87-DA-40. 1987, 79-84
• SHTEINGART, S. RTG: Automatic Register Level Test Generator. Proc. 22nd Design Automation Conference. 1985, 803-807
• THOMPSON, E. W. Digital Logic Simulation in a Time-Based, Table-Driven Environment-Part2, Parallel Fault Simulation. Computer. 1975, 8, 3, 38-49

タイトルに関連する用語 (5件)： 固有 ,  初期値 ,  伝播 ,  スキャン ,  テスト生成