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J-GLOBAL ID：200902174101489272   整理番号：02A0856975

光学的プロービングのための面発光レーザの反射誘起電圧変化

Reflection Induced Voltage Change of Surface Emitting Laser for Optical Probing.

著者 (4件)： HASHIZUME J (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  SHINADA S (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  KOYAMA F (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  IGA K (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
資料名： Optical Review  (Optical Review)
巻： 9  号： 5  ページ： 186-188  発行年： 2002年09月 
JST資料番号： L2272A  ISSN： 1340-6000  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 近接場光学を利用した超高密度光メモリの読取り用光ヘッドに用い...

シソーラス用語： *光プローブ ,...
準シソーラス用語： *VCSEL

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分類 (2件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S) ,  半導体レーザ  (BD04070L)

引用文献 (7件)：

• OHTSU, M. Near-Field Nano/Atom Optics and Technology. 1997
• BETZIG, E. Appl. Phys. Lett. 1992, 61, 142
• GOTO, K. Jpn. J. Appl. Phys. 1998, 37, 2274
• KOYAMA, F. OECC'98
• SHINADA, S. Jpn. J. Appl. Phys. 1999, 38, L137

タイトルに関連する用語 (3件)： 光学 ,  面発光レーザ ,  誘起電圧