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J-GLOBAL ID：200902174662856665   整理番号：98A0451139

低エネルギー電子回折とX線光電子分光法によるZrO/W(100)表面の研究

Studies on the ZrO/W(100) surface by means of low-energy electron diffraction and X-ray photoelectron spectroscopy.

著者 (4件)： SATOH H (Muroran Inst. Technol., Muroran, JPN) ,  KAWATA S (Muroran Inst. Technol., Muroran, JPN) ,  NAKANE H (Muroran Inst. Technol., Muroran, JPN) ,  ADACHI H (Muroran Inst. Technol., Muroran, JPN)
資料名： Surface Science  (Surface Science)
巻： 400  号： 1/3  ページ： 375-382  発行年： 1998年03月12日 
JST資料番号： C0129B  ISSN： 0039-6028  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 低い仕事関数を持つ標記の表面を調べた。LEEDで表面原子配列...

シソーラス用語： *酸化ジルコニウム ,...

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分類 (1件)： 酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (3件)： 低エネルギー電子回折 ,  X線光電子分光法 ,  研究