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J-GLOBAL ID：200902174743494768   整理番号：98A0617795

低コヒーレンス干渉測定による透明板の位相と群屈折率および厚さの同時測定

Simultaneous measurement of the phase and group indices and the thickness of transparent plates by low-coherence interferometry.

著者 (6件)： HARUNA M (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  OHMI M (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MITSUYAMA T (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  TAJIRI H (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MARUYAMA H (Kyushu Matsushita Electric Co. Ltd., Fukuoka, JPN) ,  HASHIMOTO M (Osaka Electro-Communication Univ., Neyagawa, JPN)
資料名： Optics Letters  (Optics Letters)
巻： 23  号： 12  ページ： 966-968  発行年： 1998年06月15日 
JST資料番号： H0690A  ISSN： 0146-9592  CODEN： OPLEDP  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 低コヒーレンス干渉計を用いる透明板の位相屈折率n<sub>p...

シソーラス用語： 透明材料 ,...

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分類 (3件)： 屈折及び反射の測定と装置  (BD07060V) ,  長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O) ,  干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (7件)： コヒーレンス ,  干渉測定 ,  透明板 ,  位相 ,  群屈折率 ,  厚さ ,  同時測定