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J-GLOBAL ID：200902175008620500   整理番号：01A0767611

顕微操作のためのCoulomb相互作用による付着粒子の引離しに要する電圧

Voltage required to detach an adhered particle by Coulomb interaction for micromanipulation.
著者 (6件)：
TAKAHASHI K

TAKAHASHI K について

(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)

Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN について

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KAJIHARA H

KAJIHARA H について

(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)

Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN について

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URAGO M

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(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)

Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN について

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SAITO S

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(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)

Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN について

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MOCHIMARU Y

MOCHIMARU Y について

(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)

Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN について

, 
ONZAWA T

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(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)

Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN について


資料名：
Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)

Journal of Applied Physics について


巻： 90  号： 1  ページ： 432-437  発行年： 2001年07月01日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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