弾道電子放出分光によって調べたAu/CaF<sub>2</sub>/Si(111)構造におけるホットエレクトロン輸送

SUMIYA T; HONDA K; MIURA T; TANAKA S

文献

J-GLOBAL ID：200902185261739935 整理番号：99A0258150

弾道電子放出分光によって調べたAu/CaF₂/Si(111)構造におけるホットエレクトロン輸送

Hot-electron transport through Au/CaF₂/Si(111) structure studied by ballistic electron emission spectroscopy.

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資料名：
巻： 85 号： 2 ページ： 941-946 発行年： 1999年01月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

標記ヘテロ構造中のCaF₂中間層を通過...

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金属-絶縁体-半導体構造 , その他の無機化合物の薄膜

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弾道電子放出分光によって調べたAu/CaF2/Si(111)構造におけるホットエレクトロン輸送

弾道電子放出分光によって調べたAu/CaF₂/Si(111)構造におけるホットエレクトロン輸送