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J-GLOBAL ID：200902186310077362   整理番号：98A0373271

電気機械的デバイスとその表面科学 電気接点の高解像力表面プロファイル測定システム

Electromechanical Devices and their Surface Science. A High-Resolution Measurement System for Surface Profile of Electric Contact.

著者 (4件)： EBARA Y (Tohoku Univ., Sendai-shi, JPN) ,  SONE H (Tohoku Univ., Sendai-shi, JPN) ,  NEMOTO Y (Tohoku Univ., Sendai-shi, JPN) ,  TAKAGI T (Nihon Univ., Koriyama-shi, JPN)
資料名： IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)  (IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E81-C  号： 3  ページ： 432-434  発行年： 1998年03月 
JST資料番号： L1370A  ISSN： 0916-8524  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： スリット光線の幅と電気接点の表面プロファイルの測定システムの...

シソーラス用語： *電気接点 ,...

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分類 (1件)： 電気接点  (NA05070V)

引用文献 (3件)：

• SONE, H. A basic study on automatic measurement of surface profile of electric contact using light section microscope. IEICE Trans. 1987, J70-C, 3, 424-429
• SONE, H. Recent development of testing system for arcing contacts. IEICE Trans Electron. 1994, E77-C, 10, 1545-1552
• SUEDA, T. Kougaku-buhin no tsukaikata to ryuuiten. 1987

タイトルに関連する用語 (6件)： 電気機械 ,  表面科学 ,  電気接点 ,  高解像力 ,  プロファイル ,  測定システム