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J-GLOBAL ID：200902186977983825   整理番号：02A0109016

走査型トンネル顕微鏡観察によって研究したSi(111)6×6-Au表面の部分的不規則性

Partial Disorder of the Si(111)6 × 6-Au Surface Studied by Scanning Tunneling Microscopy.

著者 (4件)： HIGASHIYAMA K (Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN) ,  EGAMI A (Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN) ,  HOSOI S (Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN) ,  SUZUKI K (Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 40  号： 12  ページ： 6985-6992  発行年： 2001年12月15日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Si(111)6×6-Au界面の走査トンネル顕微鏡(STM)...

シソーラス用語： 走査型トンネル顕微鏡 ,...

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分類 (2件)： 半導体の表面構造  (BK15030A) ,  金属薄膜  (BK14030T)

引用文献 (25件)：

• 1) See a review by G. Le Lay: Surf. Sci. 132 (1983) 169.
• 2) H. Lipson and K. E. Singer: J. Phys. C 7 (1974) 12.
• 3) G. Le Lay and J. P. Faurie: Surf. Sci. 69 (1977) 295.
• 4) W. Haidinger and S. C. Barnes: Surf. Sci. 20 (1970) 313.
• 5) F. Salvan, H. Fuchs, A. Baratoff and G. Binnig: Surf. Sci. 162 (1985) 634.

タイトルに関連する用語 (5件)： 走査型トンネル顕微鏡観察 ,  研究 ,  Si ,  Au ,  不規則性