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J-GLOBAL ID：200902189624523137   整理番号：98A0297321

同軸衝撃衝突イオン散乱分光法によるc軸配向ZnO膜の表面極性の決定

Determination of surface polarity of c-axis oriented ZnO films by coaxial impact-collision ion scattering spectroscopy.

著者 (6件)： OHNISHI T (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  OHTOMO A (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  KAWASAKI M (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  TAKAHASHI K (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  YOSHIMOTO M (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  KOINUMA H (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 72  号： 7  ページ： 824-826  発行年： 1998年02月16日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： サファイア(0001)基板上にレーザMBEで成長させたウルツ...

シソーラス用語： イオン散乱分光法 ,...

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分類 (1件)： 半導体薄膜  (BK14040E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 同軸 ,  衝撃衝突イオン散乱分光法 ,  c軸配向 ,  ZnO ,  極性