文献

J-GLOBAL ID：200902192088255338   整理番号：98A0737200

組み込み2パターン試験に対するTPG回路のセルラ-オートマタ実現

Test and Diagnosis of VLSI. Cellular Automata Implementation of TPG Circuits for Built-In Two-Pattern Testing.

著者 (2件)： FURUYA K (Chuo Univ., Tokyo, JPN) ,  NAKAMURA N (Chuo Univ., Tokyo, JPN)
資料名： IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)  (IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E81-D  号： 7  ページ： 675-681  発行年： 1998年07月 
JST資料番号： L1371A  ISSN： 0916-8532  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： セルラ-オートマタ(CA)による回路実現は,潜在的にVLSI...

シソーラス用語： *超LSI ,...
準シソーラス用語： cellular automata

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分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (5件)：

• BARDELL, P. H. Analysis of cellular automata used as pseudorandom pattern generators. Proc. 1990 ITC. 1990, 762-768
• FURUYA, K. Synthesis of autonomous TPG circuits oriented for two-pattern testing. Proc. First Asian Test Symposium (ATS'92). 1992, 231-236
• FURUYA, K. Two-pattern test capabilities of autonomous TPG circuits. 1991 ITC. 1991, 704-711
• BARDELL, P. H. Built-In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques. 1987
• GOLOMB, S. W. Shift Register Sequences (ReBised Ed.). 1982

タイトルに関連する用語 (3件)： 組み込み ,  試験 ,  オートマタ