文献
J-GLOBAL ID:200902193678345819
整理番号:96A0451836
斜入射MBE法により作製したGaAs/AlGaAs T字型エッジ量子細線のCL測定 (3)
CL measurement of T-shaped quantum wire fabricated by glancing angle MBE. (3).
-
出版者サイト
複写サービスで全文入手
{{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=96A0451836©=1") }}
-
高度な検索・分析はJDreamⅢで
{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=96A0451836&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=Y0054A") }}