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J-GLOBAL ID：200902195856365600   整理番号：93A0664296

パルスESR法によるa-Si:H中の光誘起欠陥の研究(基板温度依存性)

Te Study of the Light-Induced Defect in a-Si:H by Pulsed ESR (Substrate Temperature Dependence).

著者 (5件)： 山本聡 (産業技術融合領域研) ,  磯谷順一 (図書館情報大) ,  松本俊一 (図書館情報大) ,  松田彰久 (電総研) ,  田中一宜 (産業技術融合領域研)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
巻： 40th  号： Pt 2  ページ： 822  発行年： 1993年03月 
JST資料番号： Y0054A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (7件)： パルス ,  ESR ,  Si ,  光誘起 ,  欠陥 ,  研究 ,  温度依存性