Defects in separation by implanted oxygen wafer probed by monoenergetic positron beams.

UEDONO A; WATAUCHI S; UJIHIRA Y; WEI L; SUZUKI R; MIKADO T; KAMETANI H; AKIYAMA H; KOUMARU M

文献

J-GLOBAL ID：200902196365472860 整理番号：94A0387981

Defects in separation by implanted oxygen wafer probed by monoenergetic positron beams.

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巻： 79 号： 1/4 ページ： 621-625 発行年： 1993年11月
JST資料番号： H0639A ISSN： 0304-3843 CODEN： HYINDN 資料種別：逐次刊行物 (A)
発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

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