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J-GLOBAL ID：200902197445908320   整理番号：99A0717593

X線粉末分光回折用リートベルト解析プログラム

A Rietveld-analysis program for X-ray powder spectro-diffractometry.

著者 (8件)： XIAO Y (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  HAYAKAWA S (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  GOHSHI Y (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  OSHIMA M (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  IZUMI F (National Inst. Res. Inorganic Materials, Ibaraki, JPN) ,  OKUDERA H (Nagoya Inst. Technol., Tajimi, JPN) ,  TORAYA H (Nagoya Inst. Technol., Tajimi, JPN) ,  OHSUMI K (High Energy Accelerator Res. Organization, Tsukuba, JPN)
資料名： Powder Diffraction  (Powder Diffraction)
巻： 14  号： 2  ページ： 106-110  発行年： 1999年06月 
JST資料番号： T0527A  ISSN： 0885-7156  CODEN： PODIE2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (5件)： X線 ,  粉末 ,  分光 ,  回折 ,  リートベルト解析