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J-GLOBAL ID：200902199010535282   整理番号：02A0355199

マルチECTプローブによるプリント基板検査への検討

Inspection of Printed Circuit Board Using Multi-ECT Probe with Solenoid Pickup Coils.

著者 (3件)： 中村和倫 (金沢大 工 電磁場制御実験施設) ,  山田外史 (金沢大 工 電磁場制御実験施設) ,  岩原正吉 (金沢大 工 電磁場制御実験施設)
資料名： 日本応用磁気学会誌  (Journal of the Magnetics Society of Japan)
巻： 26  号： 4  ページ： 555-558  発行年： 2002年04月01日 
JST資料番号： Z0944A  ISSN： 0285-0192  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： プリント配線基板の探傷検査のために渦電流検査(ECT)方法を...

シソーラス用語： *プリント基板 ,...

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分類 (2件)： 非破壊試験  (HB02030F) ,  プリント回路  (NA05040O)

引用文献 (5件)：

• YAMADA, S. IEEE Trans. Magn. 1997, 33, 5, 3376
• KACPRZAK, D. IEEJ, MAG. 1998, 98, 115, 59
• YAMADA, S. J. Magn. Soc. Jpn. 1999, 23, 7, 1817
• KACPRZAK, D. J. Magn. Soc. Jpn. 2000, 24, 4-2, 839
• SMITH, S. W. The Scientist and Engineer's Guide to Digital Signal Processing. 1997, Chater 15

タイトルに関連する用語 (5件)： マルチ ,  ECT ,  プローブ ,  プリント基板 ,  検査